Википедија

Податотека:AFMsetup.jpg

AFMsetup.jpg (721 × 569 пиксели, големина: 86 КБ, MIME-тип: image/jpeg)

Врска до Ризницата Ова е податотека од Ризницата на Викимедија и може да се користи на други проекти. Подолу е наведена содржината на нејзината описна страница.
Заедничката ризница е складиште на слободно-лиценцирани слики и снимки. И Вие можете да помогнете.

Опис

Опис
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Датум 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Извор

http://kristian.molhave.dk

Автор yashvant
Дозвола
(Повторно користење на податотекава)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
Постои и векторска (SVG) верзија на сликава.
Таа треба да се користи наместо оваа растерска слика, освен ако не е полоша од неа.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
За повеќе информации за векторската графика, прочитајте за преодот на Ризницата кон SVG формат.
На располагање ви се и информации за поддршката на SVG слики на МедијаВики.
На други јазици
Alemannisch ∙ العربية ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ বাংলা ∙ català ∙ нохчийн ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ Ελληνικά ∙ English ∙ British English ∙ Esperanto ∙ español ∙ eesti ∙ euskara ∙ فارسی ∙ suomi ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ Alemannisch ∙ עברית ∙ hrvatski ∙ magyar ∙ հայերեն ∙ Bahasa Indonesia ∙ Ido ∙ italiano ∙ 日本語 ∙ ქართული ∙ 한국어 ∙ lietuvių ∙ македонски ∙ മലയാളം ∙ Bahasa Melayu ∙ norsk bokmål ∙ Plattdüütsch ∙ Nederlands ∙ norsk nynorsk ∙ norsk ∙ occitan ∙ polski ∙ prūsiskan ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ русский ∙ sicilianu ∙ Scots ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ српски / srpski ∙ svenska ∙ தமிழ் ∙ ไทย ∙ Türkçe ∙ татарча / tatarça ∙ українська ∙ vèneto ∙ Tiếng Việt ∙ 中文 ∙ 中文（中国大陆） ∙ 中文（简体） ∙ 中文（繁體） ∙ 中文（马来西亚） ∙ 中文（新加坡） ∙ 中文（臺灣） ∙ 中文（臺灣） ∙ +/−
Нова SVG слика

Лиценцирање

w:mk:Криејтив комонс
наведи извор
Оваа податотека е под лиценцата Криејтив комонс Наведи извор 2.5 Нелокализирана
Можете:
  • да споделите – да го умножувате, распространувате и емитувате делото
  • да преработувате – да преработувате
Под следните услови:
  • наведи извор – Ќе мора да дадете прикладен припис, да ставите врска до лиценцата и да укажете дали има направено промени. Ова може да биде направено на било кој разумен начин, но без да оддава впечаток дека лиценцодавецот стои зад Вас и Вашата употреба.

Описи

Опишете во еден ред што претставува податотекава

Предмети прикажани на податотекава

прикажува

висина

569 пиксел

ширина

721 пиксел

Историја на податотеката

Стиснете на датум/време за да ја видите податотеката како изгледала тогаш.

Датум/времеМинијатураДимензииКорисникКоментар
тековна15:10, 21 ноември 2006Минијатура на верзијата од 15:10, 21 ноември 2006721 × 569 (86 КБ)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

Податотекава се користи во следнава страница:

Глобална употреба на податотеката

Оваа податотека ја користат и следниве викија:

Погледајте ја останатата глобална употреба на податотекава.

Преземено од „https://mk.wiki.x.io/wiki/Податотека:AFMsetup.jpg“